9812DX 高級低頻噪聲分析儀為半導(dǎo)體研究提供高精度和高效的噪聲功率譜密度分析和時域噪聲測量，用于高級工藝優(yōu)化，用于設(shè)計驗證和電路評估的建模。
閃變噪聲（1/f 噪聲）和隨機電報噪聲（RTN 或 RTS）測量和分析的全部功能

適應(yīng)較寬的阻抗測量范圍，滿足寬電壓和電流工作條件下對新材料、新器件和集成電路的各種要求

晶圓級高性能和寬帶寬測量，電流噪聲分辨率高達(dá) 10-27A2/赫茲

強大的數(shù)據(jù)分析和管理功能，具有易于使用的內(nèi)置測試應(yīng)用程序庫和直觀的圖形用戶界面

與 Primarius 半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng) FS-Pro 配合使用，提供并行測試框架解決方案，顯著提高測試效率和吞吐量